【產品推薦】JJ X-Ray XES光譜儀

本站提供XES光譜儀(yi) ，超高真空狹縫，空氣狹縫，狹縫係統，複合折射透鏡係統，位移台等，如本頁麵未找到您所需要的產(chan) 品請聯係我們(men) ：15301310116（微信同號）

X 射線發射譜（X-ray Emission Spectroscopy, XES）是一種通過分析材料中X 射線發射過程中能量分布，深入研究物質電子結構和化學狀態的技術。由於(yu) 具有高靈敏度和元素選擇性，XES廣泛應用於(yu) 材料科學、化學及物理學等領域。在XES實驗中，常用的光譜儀(yi) 類型包括von Hamos型和Johann型，分別適用於(yu) 不同實驗需求。

von Hamos 譜儀(yi) 采用柱麵晶體(ti) 將X射線聚焦到探測器上，由於(yu) 僅(jin) 在一個(ge) 維度聚焦，非常適合二維探測器的使用，能夠在較短的距離內(nei) 實現高分辨率成像，具備較高的分辨率和靈活性。通常用於(yu) 需要高分辨率和緊湊幾何設計的實驗，尤其在配合二維探測器的情況下的表現。

Johann 譜儀(yi) 則通過圓弧形晶體(ti) 和幾何布局，在兩(liang) 個(ge) 維度上對X射線進行聚焦，能夠實現更大的收集角和更高的探測效率，適合需要大收集角和高探測效率的實驗，尤其在大麵積探測中的表現。

上述兩(liang) 種譜儀(yi) 各有優(you) 勢，實驗人員可根據實驗需求選擇合適的類型，或者將兩(liang) 者結合使用，提升XES測量的精度和效率。JJ X-Ray可提供von Hamos譜儀(yi) 、Johann譜儀(yi) 及其組合的定製化設計。

von Hamos譜儀(yi) ：JJ X-Ray提供常規的4×4晶體(ti) 陣列設計，並可根據客戶需求靈活調整晶體(ti) 數量和排列方式。此外，還可提供兼容真空或惰性氣氛的設計。每塊晶體(ti) 由三個(ge) 獨立驅動器調節俯仰角，晶體(ti) 可根據需要快速更換。下表為(wei) 常規設計譜儀(yi) 的部分參數。

Johann譜儀(yi) ：JJ X-Ray可提供1-7個(ge) 晶體(ti) 台的常規配置，並可根據客戶需求提供具有更多晶體(ti) 台的設計方案。每個(ge) 晶體(ti) 具有4軸自由度，可根據實驗需求進行水平和豎直方向的平移，以及方位角和俯仰角的調整。

JJ X-Ray還可提供von Hamos譜儀(yi) 與(yu) Johann譜儀(yi) 結合的實驗站設計，滿足多樣化的實驗需求，並可根據客戶需求設計定製多軸樣品調節台。

以上由北京2026年世界杯官网整理的JJ X-Ray XES光譜儀(yi) 的介紹，更多產(chan) 品及內(nei) 容信息可聯係15301310116（微信同號）。